2007年~2010年(研究論文・学会発表)

研究論文・学会発表

学会名 タイトル 発表年月日 著者
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について (14) ~ 2010/12/17 和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(13) ~ 2010/10/15 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(9) ~ 2010/8/26 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点劣化現象 ~接触抵抗について(その13) ~ 2010/7/16 和田真一・園田健人・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(12) ~ 2010/6/25 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~摺動機構のモデリング(1) ~ 2010/6/25 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(その8) ~ 2010/5/21 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(その7) ~ 2010/2/19 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗(その11) ~ 2010/1/22 和田真一・サインダーノロブリン・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その9) ~ 2009/12/18 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(その5) ~ 2009/10/30 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その7) ~ 2009/8/21 和田真一・園田健人・越田圭治・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(その4) ~ 2009/7/17 和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その6) ~ 2009/6/19 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その5) ~ 2009/5/22 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その4) ~ 2009/2/20 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その3) ~ 2009/1/23 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(その3) ~ 2008/12/19 和田真一・越田圭治・園田健人・小林千晴・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大
機構デバイス研究会(EMD) 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ~3D加振機構の加振特性 ~ 2008/10/17 和田真一・越田圭治・峯岸寛人・園田健人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について(その2) ~ 2008/8/28 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング(その2) ~ 2008/7/18 和田真一・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗について ~ 2008/6/27 和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ~3D加振機構の基本特性 ~ 2008/5/16 和田真一・天尾裕・越田圭治・園田健人・峯岸寛人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構のモデリング ~ 2008/4/18 和田真一・越田圭治・峯岸寛人・天尾裕士・園田健人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) 3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振装置試作 ~ 2008/2/15 和田真一・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・園田健人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~測定データとその考察 ~ 2008/1/25 和田真一・園田健人・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎・古賀圭・西岡亮(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗の変化 ~ 2007/12/21 和田真一・園田健人・天尾裕士・越田圭治・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎・古賀圭・西岡亮(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~摺動接触機構との比較 ~ 2007/10/19 和田真一・園田健人・天尾裕士・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎・古賀圭(慶大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~加振装置試作 ~ 2007/4/20 和田真一・園田健人・片桐要祐・高橋康夫・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大)

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