研究論文・学会発表

研究論文(電子情報通信学会(IEICE)・IEEE・ICEC・NOLTA)

学会名 タイトル 公開日 著者 掲載
IEICE

A Method for Evaluating Degradation Phenomenon of ElectricalContacts Using a Micro-Sliding Mechanism- Minimal Sliding Amplitudes against InputWaveforms -

copyright©2016 IEICE

2016/9 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E99-C No.9 pp.999-1008, Sept. 2016

IEICE Transactions Online
IEEE

Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions(2)-

copyright©2015 IEEE

2015/10/11 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., San Diego, California, USA, pp.241-249, 2015

IEEE Transactions Online
IEEE Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism -The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions-

copyright©2014 IEEE

2014/10/12 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., New Orleans, LA, USA, pp.266-273, 2014

IEEE Transactions Online
ICEC Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by a Micro-Sliding Mechanism -The comparison of the evaluated minimal sliding amplitudes under some conditions using the mechanism-

copyright©2014 ICEC

2014/6/22 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

ICEC, Dresden, Germany, pp.508-513, 2014

ICEC Transactions Online
電子情報通信学会 プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法

copyright©2013 IEICE

2013/10/10 和田真一(TMCシステム)、澤孝一郎(日本工大)

電子情報通信学会論文誌 C Vol.J96-C No.11 pp.409-418

IEICE Transactions Online
IEEE Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a New Micro-Sliding Mechanism - The comparison of a new mechanism with the former concerning minimal sliding amplitudes evaluated under some conditions -

copyright©2013 IEEE

2013/9/22 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., Newport, RI, USA, pp.225-232, 2013

IEEE Transactions Online
NOLTA Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism - Modeling About Fluctuation of Contact Resistance -

copyright©2013 NOLTA

2013/9/8 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology) NOLTA Santa Fe, NM, USA, pp.6-9, 2013
電子情報通信学会 Evaluation of Basic Dynamical Parameters in Printed Circuit Board - Mass, Force, and Acceleration -

copyright©2013 IEICE

2013/9/1 和田真一(TMCシステム)、澤孝一郎(日本工大)

IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E96-C No.9 pp.1165-1172

IEICE Transactions Online
電子情報通信学会 微振動機構による電気接点の劣化現象-接触抵抗変動のモデリング

copyright©2013 IEICE

2013/7/29 和田真一、越田圭治、久保田洋彰(TMCシステム)、澤孝一郎(日本工大)

第26回 回路とシステムワークショップ, pp.261, 2013

IEICE Transactions Online
NOLTA

Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by Oscillating Mechanisms - Modeling About Fluctuation of Contact Resistance -

copyright©2012 NOLTA

2012/10/22 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology) NOLTA Majorca, Spain, .pp.872-875, 2012
IEEE Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism - Minimal sliding amplitudes estimated under some conditions by the mechanism -

copyright©2012 IEEE

2012/9/23 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., Portland, OR, USA, pp.147-154, 2012

IEICE Transactions Online
ICEC Degradation Phenomena of Electrical Contacts Using Hammering Oscillating Mechanism and Micro-sliding Mechanism--Oscillating Amplitude, Natural Frequency and Damping Ratio caused by the Mechanisms

copyright©2012 ICEC

2012/5/14 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

ICEC, Beijing, China, pp375-381, 2012

IEICE Transactions Online
IEEE Degradation phenomena of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism Contact resistance and its model

copyright©2011 IEEE

2011/9/11 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., Minneapolis, MN, USA, pp.309-316, 2011

IEICE Transactions Online
IEEE A study of Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by Hammering Oscillating Mechanism Data and modeling

copyright©2010 IEEE

2010/10/4 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., Charleston, SC, USA, pp340-347, 2010

IEICE Transactions Online
ICEC
IEEE Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by 3-D Oscillating Mechanism 3-D Oscillating Mechanism for Trial

copyright©2008 IEEE

2008/10/27 Shin-ichi Wada(TMC System Co. Ltd.),Koichiro Sawa(Nippon Institute of Technology)

IEEE Holm Conf., Orland, FL, USA, pp.284-273, 2008

IEICE Transactions Online
ICEC

Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillatingmechanism

copyright©2008 ICEC

2008/6/9 Shin-ichi Wada et al.(TMC System Co. Ltd.,),Koichiro Sawa et al.(Keio University)

ICEC, Saint-Malo, France, pp.266-271, 2008

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その他の研究論文・学会発表

学会名 タイトル 発表年月日 著者
機構デバイス研究会(EMD) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions2 -- 2016/11/03 和田真一・越田圭治(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions -- 2015/11/05 和田真一・越田圭治(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board by a Hammering Oscillation Mechanism -- Natural Frequency -- 2015/11/05 和田真一・越田圭治(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions -- 2015/10/02 和田真一・越田圭治(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board (4) -- A theoretical method for the responses of the oscillation system by a rectangular waveform or quasi-impulsive ones -- 2015/7/10 和田真一(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) 統計的手法を用いた微摺動機構による電気接点劣化現象解析 ~ いくつかの実験条件下における最小摺動振幅データを用いた統計解析 ~ 2015/6/19 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 ~ いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅 ~ 2015/2/20 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) 微摺動機構およびハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 微摺動に衝撃加振を加えることの効果 ~ 2014/12/19 和田真一・岩本紘樹・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (4) -- 2014/12/19 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board (8) -- The effect by application time of external force (3) 2014/12/19 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) Degradation phenomenon of electrical contacts by using a micro-sliding mechanism -- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions (3) -- 2014/11/30 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) An Evaluating Method for Fundamental Dynamical Parameters of Objects on a Printed Circuit Board (6) -- The effect by application time of external force -- 2014/11/30 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象 ~ いくつかの条件下における最小摺動振幅に対する比較評価(2) ~ 2014/8/22 越田圭治・和田真一・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象 ~ 最小摺動振幅に対する比較評価 ~ 2014/8/22 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(6) ~ 外力の作用時間の効果 ~ 2014/8/22 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)€
機構デバイス研究会(EMD) プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(5) ~ 固有振動数・減衰比(2) ~ 2014/6/20 越田圭治・和田真一・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
非線形問題研究会(NLP) 微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗変動のモデリング(5) ~ 2014/3/10 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(4) ~ 固有振動数・減衰比 ~ 2014/1/31 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) プリント基板上に設置した対象物の基本力学パラメータの評価方法(3) ~ 矩形波・正弦波入力時の応答特性 ~ 2013/12/20 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法 ~ 入力としての矩形波および正弦波の応答特性 ~ 2013/11/16 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法 ~ 固有振動数と減衰比(2) ~ 2013/11/16 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(28) ~ 2013/7/12 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(27) ~ 2013/6/21 和田真一・越田圭治・益田直樹・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
非線形問題研究会(NLP) 微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗変動のモデリング(4) ~ 2013/4/25 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
非線形問題研究会(NLP) 微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗変動のモデリング (3) ~ 2013/3/14 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) 微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~時系列変動データのモデリング (27) ~ 2013/1/25 和田真一・越田圭治(TMCシステム)・永井祥子(慶大)・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討 (26) ~ 2012/12/21 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン(TMCシステム)・益田直樹(東京高専)・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・寺崎真志(東京高専)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構の特性に関する基礎的検討(23) ~ 2012/7/20 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・竹田弘毅・益田直樹・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗変動のモデリング(24) ~ 2012/7/20 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~加振機構の特性に関する基礎的検討(22) ~ 2012/6/22 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
非線形問題研究会(NLP) いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗変動のモデリング(2) ~ 2012/5/29 和田真一・越田圭治・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル (21) ~ 2012/5/25 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル (20) ~ 2012/1/20 和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル (19) ~ 2011/12/16 和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・益田直樹・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
計測自動制御学会 水撃を用いた空気圧縮機の開発 2011/11/15 佐川瑞穂・峯岸寛人・柳国男(TMCシステム)李君・川嶋健嗣(東京工業大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル(17) ~ 2011/10/21 和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル(16) ~ 2011/7/15 和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒明・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~タッピング・デバイスの試作(3) ~ 2011/7/15 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・川述真裕・竹田弘毅・石塚大貴・柳国男・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ~接触抵抗とそのモデル(15) ~ 2011/5/20 和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・久保田洋彰(TMCシステム)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
非線形問題研究会(NLP) いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ~接触抵抗変動のモデリング ~ 2011/3/11 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・池口徹(埼玉大)・堀尾喜彦(東京電機大)・澤孝一郎(日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~タッピング・デバイスの試作(1) ~ 2011/1/28 和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳国男・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)
機構デバイス研究会(EMD) タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~タッピング・デバイスの試作(2) ~ 2011/1/28 越田圭治・和田真一・サインダーノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰(TMCシステム)・久我宣裕(横浜国大)・澤孝一郎(慶大名誉教授/日本工大)

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